Elektronik ışıldama, ısıya veya kimyasal reaksiyonlara dayanmadan elektrik akımı olan ışığın üretilmesidir. Bu, elektronik ışıldama ışıklarını güvenilir ve yüksek verimli hale getirir ve bunlar dijital saatlerde ve Apollo uzay mekiği rehberlik bilgisayarlarının ekranlarında arka ışık olarak kullanılırlar. Oled'ler gibi, elektronik ışıldama yoluyla ışık yayan elektrokimyasal hücreler (LEC) birçok teknolojik ilerlemeden geçmiştir. Parlaklığa yol açan süreçlerin yakından incelenmesi, parlaklık verimliliğini artırmak için esastır, ancak şimdiye kadar bu süreçleri doğrudan incelemek için deneysel bir yöntem olmamıştır.
Osaka Metropolitan Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü’nden Nambu Yoichiro ile Teorik ve Deneysel Fizik Enstitüsü'nden Profesör Katsuichi Kanemoto liderliğindeki bir araştırma ekibi, alan emisyonu sırasında “ışık yayan elektrokimyasal hücrelerin (LEC)” elektronik durumundaki değişiklikleri ilk kez lamba ışığının ışıması yoluyla optik soğurmasını ölçerek başarılı bir şekilde gözlemlemiştir.
Elektronik ışıldama, elektronlar bir elektronu tutabilen ancak onlardan yoksun olan elektron delikleri alanlarıyla yeniden birleştiğinde meydana gelir. Bir elektron deliğe girdiğinde, foton şeklinde enerji salar. Sonuçların analizi, ışık yayan elektrokimyasal hücrelerin ışıltı mekanizmasında iki aşamalı bir süreci takip ettiğini ortaya koydu:
(1) Voltaj uygulandıktan sonra, ışık yayan elektrokimyasal hücrelerde delikler hemen oluşturulur ve bu delikleri barındıran katman, elektronik ışıldamayı oluşturmak için birkaç elektronla yeniden birleşmeden önce elektron tarafındaki elektrotla arayüze yakın büyür.
(2) Elektronları barındıran tabaka, delik tabakası geri çekilir ve kademeli olarak aynı oranda büyürken, elektronik ışıldama miktarı daha sonra sabit hale gelir.
Profesör Kanemoto, “Bu çalışmada kullanılan spektroskopik gözlem yöntemi sadece ışık yayan elektrokimyasal hücrelere değil, OLED'LER de dahil olmak üzere tüm ışık yayan cihazlara uygulanabilir. Bu tekniği kullanarak elektronik ışıldama sürecinin ayrıntılarını ortaya çıkarmayı bekliyoruz ve ayrıca cihazın çalışmasına müdahale eden süreçlerin de erken tespitine yol açacak. Gelecekte, hızlı bir cihaz teşhis sistemi oluşturmak için sistemimizin ölçüm süresini kısaltmaya çalışacağız” dedi.
Editör: Selin Yüzüncüoğlu Kaynak: Science Daily