AFM, nano ölçekli boyut aralığındaki malzemelerin modül ve yüksekliğindeki farklılıkları ölçmek için kullanılan analitik bir araçtır.
Atomik Kuvvet Mikroskopisinin birincil kullanımları, nano faz morfolojisini veya yüzey pürüzlülüğünü karakterize etmektir. Aynı zamanda, mikro fazlı ayrılmış blok kopolimer sistemlerinin veya diğer nano ölçekli ürünlerin faz morfolojisinin analizi için mükemmel bir araçtır.
Çoğu örnek, AFM yöntemine uyum sağlamak için özelleştirilmiş bir yaklaşım gerektirir. Bilim adamlarımız, güvenilir sonuçlar sağlamak için uygun bir yaklaşım geliştirmek için deneyime ve eğitim geçmişine sahiptir.
Numune, düz bir substrat üzerinde hareketsiz hale getirilmelidir. Maksimum tarama yüksekliği yaklaşık 10 µm olduğundan, örneğin taranacak bölge içinde oldukça düz olması gerekir.
Numuneler tipik olarak sadece yaklaşık 1 cm'ye 1 cm alan ve 5 mm veya daha az kalınlıktadır. Belirli örnek konuları ve test ihtiyaçlarınızı görüşmek için lütfen bizimle iletişime geçin.