TEM ve SEM < Her iki SEM (taramalı elektron mikroskopu / mikroskopi) ve TEM (transmisyon elektron mikroskopu / mikroskopi) hem enstrümana hem de elektron mikroskobunda kullanılan yönteme işaret eder.
İkisi arasında çeşitli benzerlikler var. Her ikisi de elektron mikroskop çeşitleri olup, küçük, atom altı parçacıkları veya bir numunenin kompozisyonlarını görme, inceleme ve inceleme imkânı verir. Her ikisi de bir elektronun negatif yükü olan elektronları (özellikle elektron ışınları) kullanır. Ayrıca, görüntü üretmek için her iki numunenin de "lekelenmesi" veya belirli bir element ile karıştırılması gerekir. Bu enstrümanlardan üretilen görüntüler oldukça büyütülmüş ve yüksek çözünürlüklüdür.
Ancak, bir SEM ve TEM de bazı farklılıkları paylaşıyor. SEM'de kullanılan yöntem yayılmış elektronlara dayansa da TEM yayılmış elektronlara dayanmaktadır. SEM'deki dağınık elektronlar, geriye dağılmış veya ikincil elektron olarak sınıflandırılır. Bununla birlikte, TEM'de elektronların başka bir sınıflandırması yoktur.
SEM'deki dağınık elektronlar mikroskop toplandıktan ve dağılmış elektronları saydıktan sonra numunenin görüntüsünü üretti. TEM'de, elektronlar doğrudan numuneye doğru yönlendirilir. Numuneyi geçen elektronlar görüntüde aydınlanan kısımlardır.
Analiz odağı da farklıdır. SEM, numunenin yüzeyi ve bileşimi üzerine odaklanmaktadır. Öte yandan TEM, yüzeyin içinde veya dışında ne olduğunu görmek istiyor. SEM örneklemi biraz gösterirken, TEM örneklemi bütün olarak gösterir. SEM ayrıca üç boyutlu bir görüntü sağlarken, TEM iki boyutlu bir resim sunar.
Başka bir nokta, numune kalınlığı, "lekelenme" ve preparatlardır. TEM'deki örnek, bir SEM örneğinin aksine daha incedir. Buna ek olarak, bir SEM örneği dağınık elektronları yakalayan bir element tarafından "lekelenir".
Öte yandan TEM, numunenin bir TEM şebekesinde hazırlanmasını ve mikroskop uzmanlaşmış odasının ortasına yerleştirilmesini gerektirir. Görüntü floresan ekranlar vasıtasıyla mikroskop ile üretilir.
SEM'in diğer bir özelliği, numunenin yerleştirildiği alanın farklı açılarda döndürülebilmesidir.
TEM, SEM'den önce geliştirildi. TEM, Max Knoll ve Ernst Ruska tarafından 1931'de icat edildi. Bu arada, SEM 1942'de kuruldu. Makinenin tarama işleminin karmaşıklığı nedeniyle daha sonra geliştirildi.
Özet:
1. Hem SEM hem de TEM elektron mikroskoplarının iki türüdür ve küçük örnekleri incelemek ve incelemek için kullanılan araçlardır. Her iki alet de elektron veya elektron demetleri kullanır. Her iki araçta üretilen görüntüler oldukça büyütülmüş ve yüksek çözünürlük sunuyor.
2. Her bir mikroskop nasıl çalışır diğerinden çok farklıdır. SEM, elektronları serbest bırakıp elektronları çarpma üzerine sıçratır veya saçar hale getirerek numunenin yüzeyini tarar. Makine dağınık elektronları toplar ve bir görüntü oluşturur. Görüntü, televizyon benzeri bir ekranda görüntülenir. Öte yandan TEM, numuneyi bir elektron demeti yönlendirerek numuneyi işler. Sonuç, flüoresan bir ekran kullanılarak görülür.
3. Görüntüler aynı zamanda iki araç arasındaki farkın bir noktası. SEM görüntüleri üç boyutludur ve doğru gösterimler iken TEM resimleri iki boyutludur ve biraz yorum gerektirir. Çözünürlük ve büyütme açısından TEM, SEM'e kıyasla daha fazla avantaj kazanmaktadır.