Kurşun çerçeve kaplamaları (yani altın, paladyum ve nikel) endüstrinin taleplerini karşılamak için giderek daha ince (birkaç nanometreye kadar) olmaktadır. Böylece Fischer, bu zor uygulamayı ölçmek için son derece hassas ve doğru X-ışını floresans cihazları geliştirmiştir. Fischer X-ışınları saniyeler içinde tekrarlanabilir ölçüm sonuçları elde etmek için kalınlığı ve bileşimi aynı anda ölçebilir.
Ürünler
- Ürüne git: FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SERİSİ FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SERİSİ