Zeiss – EM900
Yüksek voltaj altında hızlandırılmış elektronlar bir numune üzerine gönderilirse, elektronlar ile numune atomları arasında çeşitli etkileşimler olur ve numuneden değişik enerjide elektronlar ve x-ışınları çıkar. Bu etkileşimlerden yararlanılarak numunenin incelenmesi elektron mikroskobunun prensibini oluşturur. Eğer hızlandırılmış elektronlar ince numune üzerine gönderilmiş ise, elektronların bir kısmı etkileşmeden diğer kısmı da Bragg şartları sonucu kırınıma uğrayarak numunenin alt yüzünden dışarı çıkar.
Bu tür elektronları kullanarak numunenin içyapısının incelenmesi geçirim elektron mikroskobunda yapılır. Transmission Electron Microscope veya kısaca (TEM) olarak bilinir. Elektron mikroskopları temel olarak ve fonksiyonel olarak, optik mikroskopların aynısıdır. Yani her iki mikroskopta çıplak gözle görülemeyen cisimleri büyütmek için kullanılır. İkisi arasındaki fark ise, optik mikroskopta ışık ışını, elektron mikroskobunda elektron kullanılmasıdır.
Toz numunelerin ve kütle malzemelerin metalografik tekniklerle parlatılmış yüzey ve kesitlerinin veya kırık yüzeylerinin nanometre boyutuna kadar mikroyapısal ve morfolojik karakterizasyonu yapılabileceği gibi, yarı kantitatif mikroanalitik yöntemle incelenmesi ve malzeme yapısında bulunan her türlü hatanın mikro analizi, malzemenin farklı bölgelerinde elementel kimyasal analiz, çizgi analizi, faz tespiti ve haritalaması, renkli kompozisyon görüntülemesi gibi teknikler kullanılarak incelenmesi mümkündür. Bu elektron mikroskobu ile biyoloji ve tıp numunelerinin incelenmesi yapılmaktadır. Maksimum 80 kV da inceleme yapılabilmektedir.