XRF Teknolojisi
X-ışını floresan (XRF), partiküllerde bulunan elementlerin algılanabilmesini sağlar. Materyal, düşük enerjili X-ışını radyasyonu ile harekete geçirilir ve elemente özel floresan serbest bırakılır. Bu floresan, enerji dağıtan bir X-ışını sensörü ile ölçülebilir. Veriler işlenerek, sonuçta elementlerin ve konsantrasyonlarının varlığına ilişkin bilgiler alınır. Bu bilgiler SUPPIXX® kullanan bir EM sensöründen gelen ek verilerle birleştirilerek, cismin pozisyonu ve boyutu tespit edilir – ve bir valf seti onu hassas bir şekilde fırlatır.
XRT Teknolojisi
X-TRACT [XRT], geniş bant ışınım yaratan elektrikli bir X-ışını kaynağı kullanır. Bu radyasyon, ayrı tutulan materyale nüfuz eder ve azaltıldığında, farklı spektral duyarlılıklara sahip, birbirinden bağımsız iki sensör hattı kullanan DUOLINE® sensörlü bir X-ışını kameraya ulaşır. Bu kamera tarafından sağlanan veriler TOMRA Sorting'in yüksek hızlı x-ışını işleme sistemi ile sınıflandırılır. Bu yöntemle, genellikle materyal kalınlığı dikkate alınmadan gerçekleştirilen bir süreçte, materyallerin atomik yoğunluğu tanımlanabilir.