Taramalı Elektron Mikroskobu veya SEM analizi, çeşitli malzemeleri yüzey çatlakları, kusurlar, kirleticiler veya korozyon açısından değerlendirmek için yararlı olan yüksek çözünürlüklü görüntüleme sağlar. Metalurji uzmanlarımız, SEM ve EDX analizi aracılığıyla malzeme özelliklerinin kapsamlı bir incelemesini sağlar ve üreticilere değerli bilgiler verir.
Taramalı elektron mikroskobu (SEM), çok çeşitli malzemeler üzerinde yüksek büyütme oranlarında analiz yapmak ve yüksek çözünürlüklü görüntüler üretmek için güçlü bir analitik tekniktir. TWI'nin kapsamlı bir şekilde donatılmış elektron mikroskobu paketi, birçok farklı numune türünün analiz edilmesine izin vererek, geleneksel ışık mikroskobununkinden çok daha yüksek çözünürlük sağlar.
SEM analizi, bir numunenin yüzey topografyasının karmaşık, yüksek büyütmeli görüntülerini üretmek için odaklanmış bir elektron demeti kullanan güçlü bir araştırma aracıdır. Numune üzerinde bir ilgi alanı belirlendikten ve SEM kullanılarak değerlendirildikten sonra uzmanlarımız, enerji dağılımlı x-ışını spektroskopisi veya EDX analizi kullanarak malzemenin ayrıntılarına daha derinden inebilir. Bazı test standardları şunlarıdır, ASTM E1508, ASTM F1798, ASTM F1820, ASTM F2009 bununla birlikte Avrupa EN standardları da yer almaktadır.
Neden SEM analizi?
Taramalı elektron mikroskobu kullanılarak bir yüzeyin görsel analizinin yapılması, kirleticilerin veya bilinmeyen parçacıkların, arızanın nedeninin ve malzemeler arasındaki etkileşimlerin tanımlanmasına katkıda bulunur.
Yüzey değerlendirmesine ek olarak, mekanik aşınma testi sırasında oluşan aşınma kalıntıları gibi partikül karakterizasyonu için SEM analizi kullanılır. SEM analizimizin yüksek büyütmeli, yüksek çözünürlüklü görüntülemesi, küçük parçacıkların sayısının, boyutunun ve morfolojisinin belirlenmesini destekleyerek müşterilerin malzemelerinin aşınma özelliklerini anlamalarını sağlar.
SEM Analizinin tipik kullanımları
SEM ve EDX Analizini Birleştirme
EDX, EDS veya EDAX olarak da adlandırılan enerji dağılımlı x-ışını spektroskopisi, SEM analiz işlemi sırasında yüzey malzemesinin ek olarak anlaşılmasını sağlar. EDX analizi, bir numunenin elementel bileşimini elde etmek için kullanılır ve yalnızca SEM analizi tarafından sağlanandan daha nicel bir sonuca izin verir. SEM ve EDX analizinin kombinasyonu, kimyasal bileşim ve temel araştırma sunar ve kapsamlı bir metalurjik değerlendirme sağlar.
EDX Analizinin tipik kullanımları
Enerji Dağılımlı X-ışını Spektroskopisi
SEM'lerimizin her biri, enerji dağıtıcı X-ışını (EDX, EDS olarak da anılır) spektroskopi tesisleri ile donatılmıştır. Bir atom elektron demetine maruz kaldığında, atom numarasına özgü karakteristik X-ışınları yayar; bu, örneğin tek bir noktada veya geniş bir bölgede, çizgi tarama ve element haritalama dahil olmak üzere, bir numunenin element kompozisyonunun analiz edilmesini sağlar. Bir numunenin kimyasal bileşimini değerlendirmek için yarı niceliksel analiz de yapılabilir. TWI ayrıca oksijen, nitrojen vb. gibi hafif elementleri tespit etmek için dalga boyu dağılımlı X-ışını (WDX) analizi yeteneklerine sahiptir. Konvansiyonel SEM analizi ile birlikte EDX, bir numunenin yerel bileşimi hakkında daha eksiksiz bir fikir verebilir.
Elektron Geri Saçılan Kırınım
En güçlü nicel tekniklerden biri, mikroyapısal haritalar üreten, yüksek çözünürlüklü kristalografik veriler ve faz dağılımı, yanlış yönlendirme (gerilme), tane boyutu ve dağılımı ve tercih edilen kristalografik yönelim (doku) analizi sunan elektron geri saçılımlı kırınımdır (EBSD). ). Bir zamanlar oldukça uzmanlaşmış bir teknik olan bu, artık rutin olarak gerçekleştirilebilir. Teknik, metalografi laboratuvarlarımız aracılığıyla düzenlenebilen mükemmel numune hazırlamaya büyük ölçüde bağlıdır.