Çok eksitatörlü test metodolojisi, malzemenin yapısal ve işlevsel olarak belirli bir ortama, örneğin sabit, sabit olmayan veya şok doğasına dayanabileceğine dair bir güven derecesi sağlamak için gerçekleştirilir.laboratuarda test öğesi üzerinde birden fazla hareket serbestlik derecesi göz önünde bulundurularak çoğaltılmalıdır. Laboratuvar test ortamı, malzeme üzerindeki alan ölçümlerinden elde edilebilir veya analitik olarak oluşturulmuş bir spesifikasyona dayanabilir.
Uygulama
General. MIL-STD-810g, BİRİNCİ BÖLÜM, paragraf 3'te belirtildiği gibi ve aşağıdaki paragraf 1.3'te belirtildiği gibi, bu yöntemi her türlü malzeme için kullanın. Kombine ortam testleri için, testi geçerli test belgelerine uygun olarak yapın. Bununla birlikte, dinamik test düzeylerini, süreleri, veri azaltma ve test prosedürü ayrıntılarını belirlemek için bu yöntemi kullanın.
Testin amacı. Buradaki test prosedürleri ve rehberlik, geliştirme, güvenilirlik, yeterlilik vb.dahil olmak üzere çeşitli test amaçlarına uyarlanabilir.
Dinamik yaşam döngüsü. Tablo 514.6 - I, beklenen platformla birlikte bir tür titreşimin (sabit veya sabit olmayan) karşılaşılabileceği çeşitli yaşam döngüsü durumlarına genel bir bakış sunmaktadır.
Genel Tartışma
Bu test yöntemi, malzemenin tek bir serbestlik derecesi (SDOF) hareketinden daha fazla tanımlanan belirli bir dinamik ortama yapısal ve işlevsel olarak dayanabileceğine dair bir güven derecesi oluşturmak için kullanılmalıdır; yani, çoklu serbestlik derecesi (mdof) hareketinde. Ortamın spesifikasyonu, birden fazla serbestlik derecesi gerektiren test materyali ile ilgili ölçülen alan verilerinin ayrıntılı bir özeti veya MDOF'DE uygun şekilde karakterize edilmiş bir ortamın analitik üretimi yoluyla olabilir. Genel olarak, çevre spesifikasyonu, malzemenin ölçüm noktasının konfigürasyonunda birkaç serbestlik derecesi içerecektir ve malzemenin SDOF modunda laboratuarda test edilmesi, spesifikasyonu karşılamak için malzemedeki titreşim enerjisini doğru bir şekilde dağıtmak için yetersiz kabul edilir. MET uygulamasının artan karmaşıklığının bir sonucu olarak, sdof tek eksitatör testinin (SET) birden fazla uygulaması üzerinde, mevcut verilerin ve spesifikasyonun dikkatli bir şekilde gözden geçirilmesinden sonra bir analistin MET yönteminin seçimi için gerekçe sağlaması gerekecektir. MIL-STD-810g, yöntemler 514.6, 516.6, 519.6 ve 525, karşılanması gereken gerekçe ve gereksinimin geliştirilmesinde rehberlik sağlar.