Şimdiye kadar, elektrokaplama endüstrisinde kaplama kalınlığı ölçümü ve kaplama analizi için yaygın olarak kullanılan X-ışını floresans analizi, yalnızca baz malzeme sinyalinin değerlendirilmesi yoluyla dolaylı olarak fosfor konsantrasyonunu belirleyebiliyordu ve tekniğin uygulanabilirliği kısıtlıydı. Sadece bir ağır elementten oluşan baza sahip sistemler, ayrıca yaklaşık 4 um'lik bir minimum kaplama kalınlığını gerektirirdi.
Bununla birlikte, yüksek çözünürlüklü silikon dirft detektörleri (SDD) bulunan FISCHERSCOPE® X-RAY cihazları kullanılarak, uyarma koşulları doğru seçildiği sürece fosforun floresan sinyali doğrudan ölçülebilir.
Bir NiP kaplamanın kalınlığının ölçülmesi, P konsantrasyonunun belirlenmesinden farklı uyarma koşulları altında gerçekleştirildiğinden, bu iki ölçüm uygulaması birbirini tamamlar. İzlenebilirlik, ilgili kalibrasyon standartları (Fe, Cu, Al ve PCB'yi baz malzeme olarak) FISCHER'den temin edilir.
Akımsız nikel kaplamaların çok çeşitli baz malzemeleri üzerine uygulanması SDD gibi son teknoloji dedektör teknolojisinin, çeşitli modlarda çoklu uyarımların ve güçlü analiz yazılımının WinFTM® kombinasyonu, hem kaplama kalınlığı hem de fosfor içeriğinin güvenilir ve doğru ölçülmesini sağlar, . FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, tüm bu performans özelliklerini tek bir cihazda birleştirir.