X-100 XRF Analiz cihazı
Mg, Al, Si, P veya S'yi ölçmeniz gerekmiyorsa, paranızı boşa harcamayın.
X-100, belirli element / uygulama kombinasyonları için yapılan kalibrasyon ve yazılım hariç, X-200 ile aynı donanım platformuna sahiptir.
Alaşım uygulaması için X-100, Mg, Al, Si, P ve S'yi içermez. Keşif ve çevre için X-100, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K ve Ca'yı içermez.Diğer uygulamalar için genel olarak X-100 donanımı, atom numarası 20'nin (Ca) altında element analizi için yapılandırılmamıştır.
X-100, son teknoloji X-ray tüpü ve X-200 ile silikon drift detektörüne sahiptir. Geçiş metalleri (Sc ve üstü), değerli metaller ve ağır metaller için yüksek performans isteyen operatörler için ideal yapılandırmadır. Bu nedenle, birçok alaşım uygulaması, ana metal arama ve madenciliği ve çok çeşitli örnek türlerinde ağır metal kirlenmesi veya analizi için yaygın olarak kullanılmaktadır. Yukarıda X-200'ler için belirtilen LOD ve hassas veriler, uygulanabilir elemanlar için X-100 için geçerlidir. Diğer materyal türlerini test etmek ve kendi kalibrasyon modellerini oluşturmak isteyen kullanıcılar için SciAps Ampirik Uygulaması da mevcuttur. Analizörler fabrikada temel parametreler, Compton Normalizasyonu (EPA Metodu 6200) veya kullanıcı tanımlı ampirik kalibrasyonlarla kalibre edilebilir.